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招標(biāo)代理公司（立即查看） 受業(yè)主單位（立即查看） 委托，于2025-08-04在采購與招標(biāo)網(wǎng)發(fā)布 長沙工業(yè)學(xué)院工業(yè)智能感知與控制中心（半導(dǎo)體器件實驗室項目）項目第1次公開招標(biāo)公告。現(xiàn)邀請全國供應(yīng)商參與投標(biāo)，有意向的單位請及時聯(lián)系項目聯(lián)系人參與投標(biāo)。 （略）工（略）（半導(dǎo)體器件實驗室項目）項目第1次公開招標(biāo)公告項目概況工（略）（半導(dǎo)體器件實驗室項目）招標(biāo)項目的潛在投標(biāo)人應(yīng)（略）或長沙（略）獲取招標(biāo)文件，并于（略）-（略）-（略）:（略）（北京時間）前遞交投標(biāo)文件。一、項目基本情況：項目編號：CSCG-（略）項目名稱：工（略）（半導(dǎo)體器件實驗室項目）采購方式：公開招標(biāo)總預(yù)算金額：（略）。最高限價：（略）。合同履行期限：詳見采購文件采購需求：序號品目（略）類標(biāo)的名稱規(guī)格型號數(shù)量計量單位預(yù)算單價（（略））預(yù)算金額（（略））1教學(xué)儀器（略）一、技術(shù)參數(shù)：▲1.不少于2（略）SMU，電壓范圍不小于±（略）V，電壓輸出（略）辨率不低于（略）uV，電壓輸出精度不低于（略）uV，電壓測量（略）辨率不低于（略）uV，電壓測量精度不低于（略）uV，電流測量（略）辨率不低于0.1nA，電流測量精度不低于1nA。2.LCR測試功能，最大精度不低于0.（略）%，頻率范圍不小于1kHz-（略）kHz，電阻測量范圍不小于0.1Ω-1MΩ，電容測量范圍不小于0.1pF-1mF，電感測量范圍不小于（略）nH-（略）H；3.不少于2（略）示波器，不小于（略）MHz帶寬，不小于1GSs采樣率；4.任意波形發(fā)生器功能，頻率不小于（略）MHz，（略）辨率不低于（略）bits；5.數(shù)字（略）用表功能，（略）辨率不低于5？，最大電壓不小于（略）V；6.可編程直流電源功能，電壓范圍不小于6V±（略）V，最大電流不小于1A；7.內(nèi)置處理器，搭載不小于（略）.3寸的觸控主屏幕；8.搭載觸摸交互側(cè)屏，支持實驗對應(yīng)的教學(xué)知識點原理動畫或視頻展示以及實驗原理、實驗操作及結(jié)果記錄等指導(dǎo)圖文展示；9（略）遠(yuǎn)程訪問和控制，學(xué)生實驗過程記錄及評價；（略）.配套專用半導(dǎo)體參數(shù)測試（略），提供可自由配置儀器參數(shù)功能的軟面板，支持測量曲線和參數(shù)數(shù)據(jù)的完（略）展示和查看；▲（略）.支持LabVIEW、C和Python開發(fā)；（略）.配套實驗線纜、實驗對象板卡、霍爾效應(yīng)實驗裝置等，其中霍爾效應(yīng)實驗裝置磁場強度不低于0.4T，輸入電流范圍不小于（略）mA，測量電壓范圍不小于±（略）V，內(nèi)含（略）開關(guān)矩陣；（略）.提供完（略）的實驗指導(dǎo)書和實驗代碼，覆蓋實驗至少包括：PN結(jié)的直流特性測試與（略）析；半導(dǎo)體材料的霍爾效應(yīng)測試；肖特基勢壘特性及其雜質(zhì)的測量；BJT直流參數(shù)的測量；MOSFET直流交流參數(shù)的測量；BJT特征頻率的測量；MOSFET動態(tài)開關(guān)特性測試；集成運算放大器的參數(shù)測量；MOSFET的低頻CV特性測量；數(shù)字（略）單（略）的工藝流程設(shè)計。6臺（略）教學(xué)儀器（略）一、技術(shù)參數(shù)：1.包含邏輯（略）析儀功能，不少于（略），支持SPI并行信號（略）析；2.包含示波器功能，不少于2（略），帶寬不低于（略）MHz，不低于1GSs采樣率；3.示波器ADC（略）辨率不低于8位，最大記錄長度不少于1MS（略）；4.支持任意波形發(fā)生器功能，頻率不低于（略）MHz；5.波形發(fā)生器DAC（略）辨率不低于（略）位，輸出阻抗≤（略）Ω；6.支持?jǐn)?shù)字（略）用表功能，（略）辨率不低于5？，最大電壓不低于（略）V；7.支持編程直流電源功能，電壓范圍不小于6V±（略）V，最大電流不小于1A；8.包含不少于8（略）雙向（略）功能，支持TTL邏輯電平；9.包括兩個通用PCI待測件接口，需開放PCI接口定義，搭載1個開放面包板，提供不少于5種PCI接口的真實芯片待測件，被測參數(shù)需包括但不限于INL、DNL、LSB、OffsetError、SNR、THD、SINAD等；（略）.支持USB連接，支持LabVIEW、C和Python開發(fā)；（略）.包含《（略）測試技術(shù)與實踐》實驗指導(dǎo)書，實驗內(nèi)容包含測試儀器使用、ADC動靜態(tài)參數(shù)測試、DAC動靜態(tài)參數(shù)測試、運算放大器參數(shù)測試、晶體管參數(shù)測試及（略）系列數(shù)字芯片參數(shù)測試等，并提供LabVIEW實驗程序。1臺（略）教學(xué)儀器四探針測試儀含（略）1.屏幕需采用液晶顯示。2.匹配電腦接口及（略），可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據(jù)輸入指定厚度，自動比照并修正系數(shù)，數(shù)據(jù)可儲藏或刪除?！?.測試儀的測試架要求采用自動傳感裝置，接近被測物體時實行自動減速，提高測量的精度。儀器測試電阻、電阻率、方塊電阻時，標(biāo)準(zhǔn)系數(shù)為機器自帶自調(diào)，無需手工調(diào)（略）。主機需為手自一體，測試架需自動，最高（略）辨率≥0.1mΩ，測試探頭要求為鎢針。4.每次測量均有內(nèi)置計算機自動進行溫度補償及電壓電流矯正。5.（略）機測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度：≤2%6.技術(shù)參數(shù)：1測量范圍：電阻率：（略）-4～（略）Ω-cm（要求可擴展）方塊電阻：（略）-4～（略）Ω（要求可擴展）電阻：（略）-4～（略）Ω（要求可擴展）2可測半導(dǎo)體材料尺寸直徑：5mm-（略）mm（要求可以外延）長度：≤（略）mm3測量方法：軸向、斷面均可4顯示方式：不低于4？位數(shù)顯,極性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。5恒流源：（1）電流輸出：直流電流0～（略）mA連續(xù)可調(diào)。（2）量程：（略）μA、（略）μA、1mA、（略）mA、（略）mA（3）誤差：±0.5%讀數(shù)±1個字6四探針測試探頭1探針間距:≤1mm2材料:碳化鎢.探針機械游移率:≤±1.0%7電源:（略）V±（略）%（略）Hz或（略）Hz功耗:≤（略）W7.配件：自動主機1臺，探頭1根，全自動測試架1臺，電源線和四夾子測試線各1根，（略）1套，說明書1份。6臺（略）教學(xué)儀器單晶少子壽命測試儀配備紅外光源，可測量包括（略）級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量。主要由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺五部份組成。技術(shù)指標(biāo)：1.測試單晶電阻率：＞2Ω.cm；2.可測單晶少子壽命：5μS～（略）μS；3.光源類型：波長：1.（略）μm；余輝1μS；閃光頻率（略）～（略）次／秒；4.高頻振蕩源：石英諧振器，振蕩頻率：（略）MHz；5.前置放大器：放大倍數(shù)：≥（略），頻寬：2Hz～1MHz；6.儀器測量重復(fù)誤差：＜±（略）％；7.測量方式：對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；8.可測單晶尺寸：斷面豎測：φ（略）mm—（略）mm；L2mm—（略）mm；縱向臥測：φ（略）mm—（略）mm；L（略）mm—（略）mm。6臺（略）教學(xué)儀器數(shù)字示波器一、技術(shù)參數(shù)：1、≥（略）MHz帶寬，≥1GSas實時采樣率，（略），2nsdiv～（略）sdiv時基范圍；2、存儲深度（每次采集波形的記錄長度）不低于（略）K采樣點；3、示波器尺寸≤（略）x（略）x（略）mm，厚度≤（略）mm,重量≤1.1kg，功耗≤（略）W；4、不小于7英寸TFT（真彩色）液晶屏幕，（略）色，（略）辨率不低于（略）×（略）像素；5、存儲波形不少于（略）組；具備U盤存儲功能；6、具有自動量程功能，支持水平，垂直、單波形多波形跟蹤；7、探頭衰減倍數(shù)不少于1（略）,（略）,（略）,（略），四種；8、支持光標(biāo)測量，光標(biāo)模式不少于電壓差（△V），時間差（△T），時間差電壓差（△V），自動光標(biāo)四種模式；9、內(nèi)置6位硬件頻率計，可測量2Hz～（略）MHz；（略）、具有電流測量功能，測量范圍：（略）.0mAV～1KAV；（略）、具有USBDevice或Host接口；（略）、具有不少于（略）種自動測量功能（參數(shù)為中文顯示），且能自定義測量菜單；（略）、具有波形截取功能；（略）、具有支持LABVIEW通訊，支持二次開發(fā)。6臺（略）教學(xué)儀器金（略））1.無（略）2.放大倍數(shù)：（略）-（略）3.目鏡：平場目鏡（視度可調(diào)）PL（略），視場數(shù)≥（略）mm，其中一支目鏡帶尺。4.觀察筒：鉸鏈?zhǔn)饺?，（略）°傾斜，固定式（略）光比8:2，瞳距可調(diào)節(jié)，瞳距調(diào)節(jié)范圍（略）～（略）mm。5.轉(zhuǎn)換器：內(nèi)定位不低于5孔物鏡轉(zhuǎn)換器。6.物鏡：平場消色差長工作距金相物鏡:LMPlan5（略）NA≥0.（略）WD≥（略）.5mm；MPlan（略）NA≥0.（略）WD≥8.7mm；LMPlan（略）NA≥0.4WD≥8.8mm；LMPlan（略）NA≥0.（略）WD≥5.1mm；LMPlan（略）NA≥0.（略）WD≥2.（略）mm（選配）。7.調(diào)焦機構(gòu)：粗微調(diào)同軸；粗動每轉(zhuǎn)行程≥（略）mm，微調(diào)精度≤0.（略）mm；帶粗調(diào)松緊調(diào)節(jié)裝置，可調(diào)節(jié)粗調(diào)手輪的扭矩。8.載物（略），低手位（略）、（略）面積≥（略）mm（略）mm，移動范圍：≥（略）mm（略）mm；移動精度：≤0.1mm；樣品壓片，可拆下；水滴型金屬載物臺（略）孔直徑≤（略）mm），帶旋轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)手柄，可（略）°旋轉(zhuǎn)。9（略）：（略）可調(diào)視場光闌，（略）V-（略）V寬電壓輸入；≥5W暖色LE（略），亮度連續(xù)可調(diào)；后置式燈室（即光源在顯微鏡的后方，再折射到觀察標(biāo)本的正下方）；藍(lán)色濾色片?！裕骸荩裕┫袼?。傳感器尺寸：≥（略）.8”。最大幀率及最（略）有自動曝光、自動白平衡功能；USB3.0純數(shù)碼輸出。要求設(shè)備配套顯微鏡原廠圖像（略）析（略），圖像處理（略）及硬件，與顯微鏡同一品牌。（略）.要求提供產(chǎn)品包含觀（略）彩頁佐證，否則視為技術(shù)負(fù)偏離處理。6臺（略）教學(xué)儀器數(shù)據(jù)處理終端一、技術(shù)參數(shù)：1.CPU處理器≥i5-（略），物理核心數(shù)≥6核心十二線程，睿頻≥4.4，緩層≥（略）MB，功耗≥（略）W，支持內(nèi)存速率≥（略）MTs，（略）數(shù)≥2個，帶寬≥（略）.8GBs；2.內(nèi)存配置容量≥（略）G，內(nèi)存類型支持DDR4LPDDR4LPDDR4（略）及以上。內(nèi)存配置數(shù)量≥1條；3.主板：支持IntelB（略）芯片組及以上，支持PCIe插槽數(shù)量不少于2個，預(yù)留滿足USB3.0數(shù)據(jù)傳輸規(guī)范的接口，工作電壓5V，最大過電流應(yīng)不小于3A，預(yù)留多功能導(dǎo)入裝置板卡安裝孔位，采用內(nèi)置方式與主機一體化集成，容量不小于（略）mm×（略）mm×（略）.5mm（長×寬×高），2個SATA、1個M.2、6個USB接口，內(nèi)存插槽最大支持容量≥（略）G，內(nèi)存插槽滿配時最高內(nèi)存容量≥（略）G；4.存儲配置：固態(tài)硬盤數(shù)量≥1個，固態(tài)存儲容量≥（略）G，固態(tài)存儲協(xié)議支持UFSSATAPCIeNVMe等，固態(tài)存儲形態(tài)采用插卡或板載等形態(tài)，可選用符合M.2或2.5寸SATA或mSATA等標(biāo)準(zhǔn)的插卡形態(tài)，固態(tài)盤應(yīng)符合SJT（略）相關(guān)規(guī)定；5.顯示設(shè)備：顯卡類型為獨立顯卡≥4G，支持HDMI+VGA+DVI，顯示屏占比≥（略）%，（略）辨率≥（略）*（略），顯示屏像素密度≥（略）像素英寸，顯示屏尺寸≥（略）英寸，顯示屏屏幕比例（略）:9，顯示器外觀顏色為黑色，防藍(lán)光模式，藍(lán)光加權(quán)輻射亮度比應(yīng)≤0.（略）W·cd·sr（瓦每坎特拉每球面度），支持低頻閃≤-（略）dB，鏡面反射率≤（略）%。6.外設(shè)：鍵盤數(shù)量≥1個，按鍵數(shù)目（略）鍵，連接方式為有線，長度≥1.5米，顏色為黑色，鍵程2.3mm~4.0mm，鍵壓力應(yīng)0.（略）N±0.（略）N，鼠標(biāo)數(shù)量≥1個，連接方式為有線，長度大于等于1.5米，顏色為黑色，DIP（略）辨率（略）~（略），其它參數(shù)應(yīng)符合GBT（略）的相關(guān)規(guī)定；7（略）絡(luò)設(shè)備：前置面板：≥2×USB2.0，≥2×USB3.1；后置面板：≥2×USB2.0，≥2×USB3.1；音頻前置面板：≥1×耳機麥克風(fēng)兩用接口；后置面板：≥1×耳機麥克風(fēng)兩用接口；視頻接口：≥1×HDMI，≥1×Disp（略）絡(luò)接口≥1×RJ（略）；≥1×電源接口；8.（略）機規(guī)格：（略）機外觀表面不應(yīng)有凹痕、劃傷、裂縫、變形和污染等。表面涂層均勻，不應(yīng)起泡、龜裂、脫落和磨損，金屬（略）部件無銹蝕及其它機械損傷；機身材質(zhì)為金屬，顏色為黑色，機箱尺寸容量≥（略）L。8臺（略）教學(xué)儀器實驗工作臺一、（略）體要求：1）單層二工位樣式，底層為實驗臺面，上層為儀器隔板；（需提供（略）體3D效果圖、尺寸圖）鋁合金型材和全鋼制框架拼裝組合結(jié)構(gòu)，